微洩漏密封測試儀 DHS740 如何在真空壓力衰減下進行無損測量

微洩漏密封測試儀 DHS740 如何在真空壓力衰減下進行無損測量

洩漏測量中使用的經典方法之一當然是壓力衰減。在本教程中,我們將介紹使用微洩漏密封測試儀 DHS 740 如何在真空壓力衰減下進行無損測量。

– 壓力衰減測試 – 工作原理

壓力衰減可能是製造生產線中使用最廣泛的洩漏測試方法。該過程不復雜、相對便宜且易於自動化。

微洩漏密封測試儀 DHS740 如何在真空壓力衰減下進行無損測量

將空氣簡單地注入測試物件,然後關閉壓力源。隨著時間的推移,空氣壓力的任何降低都表示洩漏。

對於壓力衰減,靈敏度是物體大小和測試時間間隔的函式。對於大多數應用來說,中型和大型物體需要更長的迴圈時間才能達到足夠的靈敏度。對於中等大小的物體,靈敏度僅限於檢測洩漏量為 0。5 – 1。0 cc/min 的洩漏。

使用壓降法時,以下幾點很重要:

壓降與洩漏率成正比;

如果滿足以下條件,觀察到的壓降可以轉換為洩漏率:

- 被測元件的內部體積已知;

- 準確測量壓降;

- 記錄測試時間

使用壓降法時,洩漏值可以用下式計算,其中:

Q = 洩漏率,單位為 mbar。l / s;

p = 初始壓力,單位為 mbar;

p = 以 mbar 為單位的最終列印;

V = 體積,以升為單位;

t = 以秒為單位的時間。

可以檢測到的最小壓力變化約為 0。1 Pa、0。001 mbar 或 0。0000145 psi。

必須密切監測溫度波動以獲得最大精度